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期刊論文
出版日期2007-09-00
期刊等級SCI / 其他
論文名稱(篇名)The Impact of Mobility Enhanced Technology on Device Performance and Reliability for sub-90nm SOI nMOSFETs
期刊名Microelectronic Engineering
卷數84
期數9-10
起頁2077
迄頁2080
總頁數4
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Wen-Kuan Yeh
著作人數1
作者型態First Author / Corresponding Author
使用語言英文

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