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期刊論文
出版日期2007-02-00
期刊等級SCI / EI
論文名稱(篇名)A Novel Strain Method for Enhancement of 90-nm Node and Beyond FUSI-Gated CMOS Performance
期刊名IEEE Electron Device Letters
卷數28
期數2
起頁111
迄頁113
總頁數3
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Chien-Ting Lin, Yean-Kuen Fang, Wen-Kuan Yeh, Tung-Hsing Lee, Ming-Shing Chen, Chieh-Ming Lai, Che-Hua Hsu, Liang-Wei Chen, Li-Wei Cheng, and Mike Ma
著作人數10
作者型態Corresponding Author
使用語言英文

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