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期刊論文
出版日期2007-02-00
期刊等級SCI / EI
論文名稱(篇名)The Investigation of Post-Annealing-Induced Defects Behavior on 90-nm In Halo nMOSFETs With Low-Frequency Noise and Charge-Pumping Measuring
期刊名IEEE Electron Device Letters
卷數28
期數2
起頁142
迄頁144
總頁數3
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Chieh-Ming Lai, Yean-Kuen Fang, Wen-Kuan Yeh, Chien-Ting Lin, and T. H. Chou
著作人數5
作者型態Corresponding Author
使用語言英文

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