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期刊論文
出版日期2006-04-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)Stress Technology Impact on Device Performance and Reliability for <100> sub-90nm SOI CMOSFETs
期刊名Japanese Journal of Applied Physics
卷數45
期數4B
起頁3053
迄頁3057
總頁數5
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Chieh-Ming Lai, Yean-Kuen Fang, Wen-Kuan Yeh, S. H. Chen, and Ta-Hsun Yeh
著作人數5
作者型態Corresponding Author
使用語言英文

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