:::
期刊論文
出版日期2011-03-00
期刊等級SCI / EI
論文名稱(篇名)Impact of SOI Thickness on FUSI-Gate CESL CMOS Performance and Reliability
期刊名IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
卷數11
期數1
起頁44
迄頁49
總頁數6
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Yu-Ting Chen, K.-M. Chen, Wen-Kuan Yeh, C.-C. Wang, C-L. Lin, J.-S. Yuan, and F.-S. Yeh
著作人數7
作者型態Other
參考網址http://ieeexplore.ieee.org/search/freesrchabstract.jsp?tp=&arnumber=5560782&queryText%3DImpact+of+SOI+Thickness+on+FUSI-Gate+CESL+CMOS+Performance+and+Reliability%26openedRefinements%3D*%26searchField%3DSearch+All
使用語言英文

行事曆

« February 2019»
    010203
04050607080910
11121314151617
18192021222324
25262728
學術榮譽榜

ad01

GRB智慧搜尋系統

活動剪影

2010電機實務專題競賽2009專題展2009電機專題展啦啦隊103級啦啦隊103級啦啦隊2011.台電參訪南茂科技參訪活動2014年電機系啦啦隊_亞軍2014年電機系啦啦隊_亞軍2014年電機系啦啦隊_亞軍2017年運動會電機系進場
閱讀更多
cron web_use_log