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| 出版日期 | 2010-08-00 |
|---|---|
| 期刊等級 | SCI / EI |
| 論文名稱(篇名) | External Stresses on Tensile and Compressive Contact Etching Stop Layer SOI MOSFETs |
| 期刊名 | IEEE Transactions on Electron Devices |
| 卷數 | 57 |
| 期數 | 8 |
| 起頁 | 1889 |
| 迄頁 | 1894 |
| 總頁數 | 6 |
| 作者中文名 | 葉文冠 |
| 作者英文名 | Wen-Kuan Yeh |
| 全部作者 | Wen-Teng Chang,Chih-Chung Wang(王治忠),Jian-An Lin(林建安),and Wen-Kuan Yeh |
| 著作人數 | 4 |
| 作者型態 | Corresponding Author |
| 參考網址 | http://ieeexplore.ieee.org/search/freesrchabstract.jsp?tp=&arnumber=5497124&queryText%3DExternal+Stresses+on+Tensile+and+Compressive+Contact+Etching+Stop+Layer+SOI+MOSFETs%26openedRefinements%3D*%26searchField%3DSearch+All |
| 使用語言 | 英文 |
