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期刊論文
出版日期2011-03-00
期刊等級SCI / EI
論文名稱(篇名)Effect of NH3 Plasma Nitridation on Hot-Carrier Instability and Low-Frequency Noise in Gd-Doped High-κ Dielectric nMOSFETs
期刊名IEEE Transactions on Electron Devices
卷數58
期數3
起頁812
迄頁818
總頁數7
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Yu-Ting Chen, Kun-Ming Chen,Cheng-Li Lin, Wen-Kuan Yeh,Guo-Wei Huang, Chien-Ming Lai, Yi-Wen Chen, Che-Hua Hsu, and Fon-Shan Huang
著作人數9
作者型態Other
使用語言英文

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