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期刊論文
出版日期2005-09-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)A Generalized Electrostatic Scale Length for Fully depleted Surrounding-Gate Metal-oxide-semiconductor Field Effect Transistors
期刊名Japanese Journal of Applied Physics
卷數vol.44
期數no.9A
起頁6452
迄頁6457
作者中文名江德光
作者英文名Te-Kung Chiang
全部作者T. K. Chiang
使用語言英文

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