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出版日期 | 2008-04-00 |
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期刊等級 | SCI / 其他 |
論文名稱(篇名) | High-efficiency test pattern generating mechanism |
期刊名 | International Journal of Electronics |
卷數 | vol.95 |
期數 | no.4 |
起頁 | 371 |
迄頁 | 382 |
總頁數 | 12 |
作者中文名 | 陳春僥 |
作者英文名 | Chuen-Yau Chen |
全部作者 | C. Y. Chen |
著作人數 | 1 |
作者型態 | First Author |
使用語言 | 英文 |