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| 出版日期 | 2008-04-00 |
|---|---|
| 期刊等級 | SCI / 其他 |
| 論文名稱(篇名) | High-efficiency test pattern generating mechanism |
| 期刊名 | International Journal of Electronics |
| 卷數 | vol.95 |
| 期數 | no.4 |
| 起頁 | 371 |
| 迄頁 | 382 |
| 總頁數 | 12 |
| 作者中文名 | 陳春僥 |
| 作者英文名 | Chuen-Yau Chen |
| 全部作者 | C. Y. Chen |
| 著作人數 | 1 |
| 作者型態 | First Author |
| 使用語言 | 英文 |
