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期刊論文
出版日期2008-04-00
期刊等級SCI / 其他
論文名稱(篇名)High-efficiency test pattern generating mechanism
期刊名International Journal of Electronics
卷數vol.95
期數no.4
起頁371
迄頁382
總頁數12
作者中文名陳春僥
作者英文名Chuen-Yau Chen
全部作者C. Y. Chen
著作人數1
作者型態First Author
使用語言英文

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