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期刊論文
出版日期2010-06-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)Impact of Strain on Hot Electron Reliability of Dual-Band Power Amplifier and Integrated LNA-Mixer RF Performances
期刊名Microelectronics Reliability
卷數50
期數6
起頁807
迄頁812
總頁數6
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者J.S. Yuan, J. Ma, C.W. Hsu, and Wen-Kuan Yeh
著作人數4
作者型態Corresponding Author
使用語言英文

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