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期刊論文
出版日期2012-05-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)RF stress effects on CMOS LC-loaded VCO reliability evaluated by experiments
期刊名Microelectronics Reliability
卷數12
期數2
起頁369
迄頁374
總頁數6
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者H.D. Yen, J.S. Yuan, R.L. Wang, G.W. Huang, W.K. Yeh , and F.S. Huang
著作人數6
作者型態Other
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