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期刊論文
出版日期2012-04-00
期刊等級EI
論文名稱(篇名)The Improvement of Reliability of High-k/Metal Gate pMOSFET Device with Various PMA Conditions
期刊名Active and Passive Electronic Components
卷數2012
期數Article ID 872494
起頁.
迄頁.
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Yi-Lin Yang, Wenqi Zhang, Chi-Yun Cheng and Wen-kuan Yeh
著作人數4

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