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期刊論文
出版日期2012-07-30
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)The impact of interface/border defect on performance and reliability of high-k/metal-gate CMOSFET
期刊名Microelectronics Reliability
卷數10
期數2
起頁11
迄頁16
總頁數5
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Wen-Kuan Yeh , Po-Ying Chen , Kwang-Jow Gan , Jer-Chyi Wang , Chao Sung Lai
著作人數5
作者型態Other

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