:::
期刊論文
出版日期2013-06-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)Reliability Analysis of pHEMT Power Amplifier with an On-chip Linearizer
期刊名Microelectronics Reliability
卷數6
期數53
起頁878
迄頁884
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Jiann-Shiun Yuan, Hsu-Der Yen, Guo-Wei Huang, and Wen-Kuan Yeh
著作人數7
作者型態Corresponding Author

行事曆

« March 2019»
    010203
04050607080910
11121314151617
18192021222324
25262728293031
學術榮譽榜

ad01

GRB智慧搜尋系統

活動剪影

2010電機實務專題競賽2009專題展2009電機專題展啦啦隊啦啦隊啦啦隊103級啦啦隊103級啦啦隊2014年電機系啦啦隊_亞軍鴻海參訪2017年運動會電機系進場運動會進場
閱讀更多
cron web_use_log