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期刊論文
出版日期2013-02-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)The impact of interface/border defect on performance and reliability of high-k/metal-gate CMOSFET
期刊名Microelectronics Reliability
卷數4
期數53
起頁265
迄頁269
總頁數4
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Wen-Kuan Yeh , Po-Ying Chen, Kwang-Jow Gan, Jer-Chyi Wang, Chao Sung Lai
著作人數5
作者型態Corresponding Author

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