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期刊論文
出版日期2013-11-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)Effects of Fin Width on Device Performance and Reliability of Double-Gate n-Type FinFETs
期刊名IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
卷數60
期數11
起頁3639
迄頁3644
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Cheng-Li Lin, Po-Hsiu Hsiao, Wen-Kuan Yeh, Han-Wen Liu, Syuan-Ren Yang, Yu-Ting Chen, Kun-Ming Chen,and Wen-Shiang Liao
著作人數8
作者型態Other

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