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| 出版日期 | 2010-08-00 |
|---|---|
| 期刊等級 | SCI |
| 論文名稱(篇名) | External Stresses on Tensile and Compressive Contact Etching Stop Layer SOI MOSFETs |
| 期刊名 | IEEE Transactions on Electron Devices |
| 卷數 | Vol.57 |
| 期數 | No.8 |
| 起頁 | 1889 |
| 迄頁 | 1894 |
| 總頁數 | 6 |
| 作者中文名 | 張文騰 |
| 作者英文名 | Wen-Teng Chang |
| 全部作者 | Wen-Teng Chang, Chih-Chung Wang, Jian-An Lin, Wen-Kuan Yeh |
| 著作人數 | 4 |
| 作者型態 | First Author / Corresponding Author |
| ISSN(ISBN) | 0018-9383 |
| 參考網址 | http://ieeexplore.ieee.org/Xplore/login.jsp?url=http%3A%2F%2Fieeexplore.ieee.org%2Fiel5%2F16%2F5518459%2F05497124.pdf%3Farnumber%3D5497124&authDecision=-203 |
| 使用語言 | 英文 |
| 所屬計畫案 | 利用電晶體及環形振盪器製作壓阻感測器 |
