:::
期刊論文
出版日期2014-02-24
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)Examination of hot-carrier stress induced degradation on fin field-effect transistor
期刊名Applied Physics Letters
卷數104
期數10
起頁1063
迄頁1066
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Yi-Lin Yang, Tzu-Sung Yen, Jia-Jian Hong(洪嘉鍵), Jie-Chen Wong(翁介辰), Chao-Chen Ku, Tai-Hsuan Wu, Tzuo-Li Wang, Chien-Yi Li, Bing-Tze Wu, Shih-Hung Lin, Wen-Kuan Yeh Shih-Hung Lin,3 and Wen-Kuan Yeh2
著作人數11
作者型態Other
使用語言英文

行事曆

« February 2019»
    010203
04050607080910
11121314151617
18192021222324
25262728
學術榮譽榜

ad01

GRB智慧搜尋系統

活動剪影

2010電機實務專題競賽103級啦啦隊2009電機專題展啦啦隊103級啦啦隊2011.台電參訪2011.台電參訪2014年電機系啦啦隊_亞軍2014年電機系啦啦隊_亞軍2013年電機系啦啦隊榮獲冠軍2017年運動會電機系進場運動會進場
閱讀更多
cron web_use_log