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期刊論文
出版日期2014-07-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)Reliability of the Doping Concentration in an Ultra-thin Body and Buried Oxide Silicon on Insulator (SOI) and Comparison with a Partially Depleted SOI
期刊名Microelectronics Reliability
卷數54
期數2
起頁485
迄頁489
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者W. T. Chang, C. M. Lai , W. K. Yeh
著作人數3
作者型態Other

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