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| 出版日期 | 2015-01-00 |
|---|---|
| 期刊等級 | SCI |
| 論文名稱(篇名) | Impact of Fin Width and Back Bias under Hot Carrier Injection on Double-Gate FinFETs |
| 期刊名 | IEEE Transactions on Device and Materials Reliability |
| 卷數 | 15 |
| 期數 | 1 |
| 起頁 | 86 |
| 迄頁 | 89 |
| 總頁數 | 4 |
| 作者中文名 | 張文騰 |
| 作者英文名 | Wen-Teng Chang |
| 全部作者 | Wen-Teng Chang, Li-Gong Cin, Wen-Kuan Yeh |
| 著作人數 | 3 |
| 作者型態 | First Author / Corresponding Author |
| 使用語言 | 英文 |
