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期刊論文
出版日期2015-01-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)Impact of Fin Width and Back Bias under Hot Carrier Injection on Double-Gate FinFETs
期刊名IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
卷數15
期數1
起頁86
迄頁89
總頁數4
作者中文名張文騰
作者英文名Wen-Teng Chang
全部作者Wen-Teng Chang, Li-Gong Cin, Wen-Kuan Yeh
著作人數3
作者型態First Author / Corresponding Author
使用語言英文

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