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期刊論文
出版日期2017-12-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)A Quasi-3-D Scaling Length Model for Trapezoidal FinFET (TzFinFET) and Its Application to Subthreshold Behavior Analysis
期刊名IEEE Trans on nanotechnology (TNANO)
卷數16
期數2
起頁281
迄頁289
總頁數9
作者中文名江德光
作者英文名Te-Kung Chiang
全部作者Hong-Wun Gao, Yeong-Her Wang and Te-Kuang Chiang
著作人數3
作者型態Corresponding Author
使用語言英文

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