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期刊論文
出版日期2016-10-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)Influence of Fin Number on Hot-Carrier Injection Stress Induced Degradation in Bulk FinFETs
期刊名Microelectronics Reliability
卷數67
期數1
起頁89
迄頁93
總頁數5
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Wenqi Zhang, Tzuo-Li Wang, Yan-Hua Huang, Tsu-Ting Cheng, Shih-Yao Chen, Yi-Ying Lib, Chun-Hsiang Hsu, Chih-Jui Lai, Wen-Kuan Yeh and Yi-Lin Yang
著作人數10
作者型態Other

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