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期刊論文
出版日期2016-09-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)The Observation of Width Quantization Impact on Device Performance and Reliability for High-k/Metal Tri-Gate FinFET
期刊名IEEE Transaction on Device and Materials Reliability
卷數16
期數4
起頁610
迄頁616
總頁數7
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Wen-Kuan Yeh, Wenqi Zhang, Yi-Lin Yang, An-Ni Dai(戴安妮), Kehuey Wu, Tung-Huan Chou, Cheng-Li Lin, Kwang-Jow Gan, Chia-Hung Shih and Po-Ying Chen
著作人數10
作者型態First Author

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