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期刊論文
出版日期2018-01-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)Back-biasing to Performance and Reliability Evaluation of UTBB FDSOI, Bulk FinFETs, and SOI FinFETs
期刊名IEEE Transactions on Nanotechnology
卷數17
期數1
起頁36
迄頁40
總頁數5
作者中文名張文騰
作者英文名Wen-Teng Chang
全部作者Wen-Teng Chang; Cheng-Ting Shih(施政廷); Jhao-Lin Wu(吳昭霖); Shih-Wei Lin(林士瑋); Wen-Kuan Yeh
著作人數5
作者型態First Author / Corresponding Author
使用語言英文

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