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期刊等級 | SCI |
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論文名稱(篇名) | Performance Evaluation of UTBB FDSOI, FinFETs, and SOI FinFETs via Mechanical Stresses and Body Biasing |
期刊名 | IEEE Transactions on Nanotechnology |
卷數 | PP |
期數 | 99 |
起頁 | 1 |
迄頁 | 1 |
作者中文名 | 葉文冠 |
作者英文名 | Wen-Kuan Yeh |
全部作者 | Wen-Teng Chang; Cheng-Ting Shih; Jhao-Lin Wu(吳昭霖); Shih-Wei Lin(林士瑋), and Wen-Kuan Yeh |
著作人數 | 5 |
作者型態 | Other |