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期刊論文
出版日期2018-08-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)A Novel Effective-Conducting-Path-Induced Scaling Length Model and Its Application for Assessing Short-Channel Performance of Multiple-Gate MOSFETs
期刊名IEEE Trans on Electron DEvices
卷數65
期數10
起頁4535
迄頁4541
總頁數7
作者中文名江德光
作者英文名Te-Kung Chiang
全部作者Juin J. Liou, Te-Kuang Chiang
著作人數2
作者型態Corresponding Author

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