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期刊論文
出版日期2018-08-23
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)The Impact of Fin Number on Device Performance and Reliability for Multi-Fin Tri-Gate n-and p-type FinFET
期刊名IEEE Transaction on Device and Materials Reliability
卷數15
期數1
起頁1
迄頁2
總頁數2
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Wen-Kuan Yeh ; Wenqi Zhang ; Po-Ying Chen ; Yi-Lin Yang
著作人數4
作者型態Other

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