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研討會論文
年度2008
論文類型受邀演講
論文等級其他
論文名稱(篇名)The Impact of Strain Technology on Device Characteristic and Reliability for FUSI Gate SOI CMOSFET
會議名稱IEDMS
會議開始時間2008-11-00
會議結束時間2008-11-00
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Wen-Kuan Yeh, Jean-An Wang , Chien-Ting Lin
著作人數3
作者型態First Author
會議地點Taiwan
使用語言英文

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