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研討會論文
年度2007
論文類型其他
論文等級其他
論文名稱(篇名)The Impact of Strain Technology on Device Performance and Reliability for sub-90nm FUSI SOI MOSFETs
會議名稱IEEE Proceedings of EDSSC
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Jiun-Yu Chen, Jean-An Wang, Wen-Kuan Yeh
著作人數3
作者型態Corresponding Author
會議地點Tainan, Taiwan
使用語言英文

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