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研討會論文
年度2006
論文類型其他
論文等級其他
論文名稱(篇名)The Effect of Stressing History in Reliability Characteristics
會議名稱IEEE Proceedings of EPTC
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Sheng Hsiung Chen, Wen-Kuan Yeh
著作人數2
作者型態Corresponding Author
會議地點Singapore
使用語言英文

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