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| 年度 | 2009 |
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| 論文類型 | 口頭報告 |
| 論文名稱(篇名) | Impact of Oxide Trap Charge on Performance of Strained Fully Depleted SOI Metal-Gate MOSFET |
| 會議名稱 | EDSSC |
| 會議開始時間 | 2009-06-07 |
| 會議結束時間 | 2009-06-11 |
| 作者中文名 | 葉文冠 |
| 作者英文名 | Wen-Kuan Yeh |
| 全部作者 | W. K. Yeh, C. C. Wang, C.W. Hsu, Y.K. Fang, S. M. Wu, C. C. Ou, C. L. Lin, K. J. Gan, C. J. Weng, P. Y. Chen, J. S. Yuan, and J. J. Liou |
| 著作人數 | 12 |
| 作者型態 | First Author |
| 會議地點 | Xi'an, China |
| 使用語言 | 英文 |
