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研討會論文
年度2010
論文類型口頭報告
論文等級SCI
論文名稱(篇名)Characterization the Random Telegraph Noise in High-k/Metal gate device for 32nm nMOSFETs and pMOSFET
會議名稱Solid-State Device and Materials
會議開始時間2010-09-20
會議結束時間2010-09-23
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者W. K. Yeh, C. W. Hsu, Y. K. Fang, C. Y. Chen, C. T. Lin, P. Y. Chen
著作人數6
作者型態First Author
會議地點Tokyo, Japan
使用語言英文

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