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研討會論文
年度2011
論文類型口頭報告
論文名稱(篇名)Capping Layer Induced Degradation in Nano MOSFET with Scaled IL
會議名稱IEEE International NanoElectronics Conference (INEC)
會議開始時間2011-06-21
會議結束時間2011-06-24
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者T-H Lee, S-M Chen, C-W Hsu, Y-K Fang, F-R-Juang, W-K Yeh
著作人數6
作者型態Corresponding Author
會議地點Taoyuan, Taiwan
主辦單位IEEE
使用語言英文

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