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研討會論文
年度2012
論文類型受邀演講
論文等級SCI
論文名稱(篇名)A Proposed High Manufacturability Strain Technology for High-k/Metal Gate SiGe channel UTBB CMOSFET
會議名稱International Conference on Software and Computing Technology
會議開始時間2012-11-00
會議結束時間2012-11-00
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Wen-Kuan Yeh , P.Y. Chen , Y.L Yang
著作人數3
作者型態Other
會議地點Xian,China

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