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研討會論文
年度2013
論文類型會議論文
論文等級SCI
論文名稱(篇名)Device Variability and Reliability Check for Ultra-Thin-Body and Bulk Oxide CMOSFETs
會議名稱IEEE Proceedings of EDSSC
會議開始時間2013-06-05
會議結束時間2013-06-05
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Wen-Kuan Yeh, Chun-Ming Lai, Li-Kong Chin, and Po-Ying Chen
著作人數4
作者型態Corresponding Author
會議地點 HongKong, China

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