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年度 | 2014 |
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論文類型 | 會議論文 |
論文名稱(篇名) | Back biases and positive bias temperature instability on low and high doped ultrathin body and buried oxide siliocn-on-insulator |
會議名稱 | IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop |
會議開始時間 | 2014-06-08 |
會議結束時間 | 2014-06-09 |
作者中文名 | 張文騰 |
作者英文名 | Wen-Teng Chang |
全部作者 | Wen-Teng Chang, Sheng-Ting Shih(施政廷), Chien-Hung, Yeh(葉建銘), Wen-Kuan Yeh |
著作人數 | 4 |
作者型態 | First Author / Corresponding Author |
會議地點 | Hawaii, USA |
使用語言 | 英文 |