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研討會論文
年度2014
論文類型會議論文
論文名稱(篇名)Back biases and positive bias temperature instability on low and high doped ultrathin body and buried oxide siliocn-on-insulator
會議名稱IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop
會議開始時間2014-06-08
會議結束時間2014-06-09
作者中文名張文騰
作者英文名Wen-Teng Chang
全部作者Wen-Teng Chang, Sheng-Ting Shih(施政廷), Chien-Hung, Yeh(葉建銘), Wen-Kuan Yeh
著作人數4
作者型態First Author / Corresponding Author
會議地點Hawaii, USA
使用語言英文

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