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研討會論文
年度2014
論文類型會議論文
論文名稱(篇名)Hot Carrier Injection on Back Biasing Double-Gate FinFET with 10 and 25-nm Fin Width
會議名稱2014 21th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)
會議開始時間2014-06-30
會議結束時間2014-07-04
作者中文名張文騰
作者英文名Wen-Teng Chang
全部作者Wen-Teng Chang, Li-Gong Cin, Wen-Kuan Yeh, Po-Ying Chen
著作人數4
作者型態First Author / Corresponding Author
會議地點新加坡
使用語言英文

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