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研討會論文
年度2014
論文類型會議論文
論文等級其他
論文名稱(篇名)Junction induced Variation and Reliability for Ultra-Thin-Body and Bulk Oxide
會議名稱2014 21th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)
會議開始時間2014-06-30
會議結束時間2014-07-04
作者中文名張文騰
作者英文名Wen-Teng Chang
全部作者Wen-Kuan Yeh, wen-Teng Chang, Po-Ying Chen, Cheng-Li Lin
著作人數4
作者型態Other
會議地點Singapore

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