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研討會論文
年度2015
論文類型會議論文
論文等級SCI
論文名稱(篇名)The Study on Width Quantization impact on Device Performance and Reliability for high-k/metal Tri- Gate FinFET
會議名稱IEEE Proceedings of EDSSC
會議開始時間2015-06-01
會議結束時間2015-06-05
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Wen-Kuan Yeh, Wenqi Zhang and Yi-Lin Yang
著作人數3
作者型態First Author
會議地點Singapore

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