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研討會論文
年度2015
論文類型海報展示
論文等級EI
論文名稱(篇名)The Investigation of Characteristic and Reliability for Multi-Fin p-Channel FinFET
會議名稱International Electron Devices and Materials Symposia (IEDMS 2015)
會議開始時間2015-11-19
會議結束時間2015-11-20
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Shih-Yao Chen(陳詩堯),Tsu-Ting Cheng,Ying-Ya Chen,Tzuo-Li Wang,Yi-Lin Yang and Wen-Kuan Yeh
著作人數6
作者型態First Author
會議地點Tainan
主辦單位EDMA(台灣電子元件與材料協會)
使用語言英文

行事曆

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