:::
研討會論文
年度2016
論文類型會議論文
論文等級其他
論文名稱(篇名)Electrical Gate and Mechanical Stresses on <110> and <100> n-Type FinFETs
會議名稱International Electron Devices and Materials Symposium (IEDMS)
會議開始時間2016-11-24
會議結束時間2016-11-25
作者中文名張文騰
作者英文名Wen-Teng Chang
全部作者Wen-Teng Chang, Shih-Wei Lin(林士瑋), Wen-Kuan Yeh
著作人數3
作者型態First Author / Corresponding Author
會議地點Taipei

行事曆

« February 2019»
    010203
04050607080910
11121314151617
18192021222324
25262728
學術榮譽榜

ad01

GRB智慧搜尋系統

活動剪影

2010電機實務專題競賽103級啦啦隊2009專題展啦啦隊2014年電機系啦啦隊_亞軍2014年電機系啦啦隊_亞軍2014年電機系啦啦隊_亞軍2014年電機系啦啦隊_亞軍南茂實習2013年電機系啦啦隊榮獲冠軍鴻海參訪運動會進場
閱讀更多
cron web_use_log