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研討會論文
年度2016
論文類型會議論文
論文等級其他
論文名稱(篇名)Electrical Gate and Mechanical Stresses on <110> and <100> n-Type FinFETs
會議名稱International Electron Devices and Materials Symposium (IEDMS)
會議開始時間2016-11-24
會議結束時間2016-11-25
作者中文名張文騰
作者英文名Wen-Teng Chang
全部作者Wen-Teng Chang, Shih-Wei Lin(林士瑋), Wen-Kuan Yeh
著作人數3
作者型態First Author / Corresponding Author
會議地點Taipei

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