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研討會論文
年度2016
論文類型會議論文
論文等級SCI
論文名稱(篇名)Effects of Fin Width on Performance and Reliability for N- and P-type FinFETs
會議名稱IEEE Proceedings of EDSSC
會議開始時間2016-08-03
會議結束時間2016-08-05
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Wen-Kuan Yeh, Wenqi Zhang, and Chia-Hung Shih, Yi-Lin Yang
著作人數4
作者型態First Author
會議地點Hong Kong

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