:::
研討會論文
年度2017
論文類型會議論文
論文等級SCI
論文名稱(篇名)The impact of fin number on device's performance and reliability in tri-gate FinFETs
會議名稱Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM)
會議開始時間2017-02-28
會議結束時間2017-03-02
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Wen-Kuan Yeh ; Po-Ying Chen ; Chia-Hung Shih ; Wenqi Zhang ; Yi-Lin Yang
著作人數5
作者型態Other
會議地點Japan

行事曆

« February 2019»
    010203
04050607080910
11121314151617
18192021222324
25262728
學術榮譽榜

ad01

GRB智慧搜尋系統

活動剪影

2010電機實務專題競賽2009電機專題展啦啦隊啦啦隊103級啦啦隊2011.台電參訪2014年電機系啦啦隊_亞軍2014年電機系啦啦隊_亞軍南茂實習鴻海參訪運動會進場運動會進場
閱讀更多
cron web_use_log