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研討會論文
年度2017
論文類型會議論文
論文等級SCI
論文名稱(篇名)Effects of fin width on performance and reliability for N- and P-type FinFETs
會議名稱BIT's 3 rd Annual World Congress of Smart Materials-2017
會議開始時間2017-03-16
會議結束時間2017-03-18
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Wen-Kuan Yeh ; Wenqi Zhang ; Chia-Hung Shih ; Yi-Lin Yang
著作人數4
作者型態Other
會議地點Thailand

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