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研討會論文
年度2017
論文類型其他
論文等級其他
論文名稱(篇名)Effects of Annealing Temperatures on Ge HfZrOx MOS Capacitors
會議名稱Symposium on Nano Device Technology (SNDT 2017)
會議開始時間2017-04-28
會議結束時間2017-04-28
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Yo-Chih Tsou, Chun-Jung Su, Yao-Jen Lee, Fu-Ju Hou, Po-Jung Sung, Chih-Jen Wang, Cheng-Yen Hsieh, Yin-Tseng Tang, Wen-Fa Wu, Wen-Kuan Yeh, and Yeong-Her Wang
著作人數11
作者型態Other
會議地點新竹奈米電子研究大樓 國際會議廳

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