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研討會論文
年度2017
論文類型口頭報告 / 海報展示
論文等級EI
論文名稱(篇名)A Short-Channel-Effect-Degraded Noise Margin Model for Junctionless Quadruple-Gate MOSFETs Working on Low Power CMOS Logic Gates
會議名稱International Electron Devices & Materials Symposium 2017 (IEDMS 2017)
會議開始時間2017-09-06
會議結束時間2017-09-08
作者中文名江德光
作者英文名Te-Kung Chiang
全部作者Hong-Wun Gao,Yeong-Her Wang,Ying-Wen Ko(柯盈彣) and Te-Kuang Chiang
著作人數4
作者型態Corresponding Author
會議地點 National Chiao Tung University, Taiwan
使用語言英文

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