:::
研討會論文
年度2017
論文類型口頭報告 / 受邀演講 / 海報展示
論文等級EI
論文名稱(篇名)A New Short-Channel-Effect-Degraded Subthreshold Behavior Model for Elliptical Gate-All-Around MOSFET
會議名稱IEEE - 2017 IEEE 12th International Conference on ASIC (ASICON)
會議開始時間2017-10-25
會議結束時間2017-10-28
作者中文名江德光
作者英文名Te-Kung Chiang
全部作者Te-Kuang Chiang, Ying-Wen Ko(柯盈彣), Hong-Wun Gao, Yeong-Her Wang
著作人數4
作者型態First Author / Corresponding Author
會議地點Guiyang, China
使用語言英文

行事曆

« February 2019»
    010203
04050607080910
11121314151617
18192021222324
25262728
學術榮譽榜

ad01

GRB智慧搜尋系統

活動剪影

103級啦啦隊2009電機專題展啦啦隊103級啦啦隊103級啦啦隊南茂科技參訪活動2014年電機系啦啦隊_亞軍2014年電機系啦啦隊_亞軍南茂實習2013年電機系啦啦隊榮獲冠軍運動會進場運動會進場
閱讀更多
cron web_use_log