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| 年度 | 2018 |
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| 論文類型 | 會議論文 |
| 論文等級 | SCI |
| 論文名稱(篇名) | A Comprehensive Study of Polymorphic Phase Distribution of Ferroelectric-Dielectrics and Interfacial Layer Effects on Negative Capacitance FETs for Sub-5 nm Node |
| 會議名稱 | International Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Symposium) |
| 作者中文名 | 葉文冠 |
| 作者英文名 | Wen-Kuan Yeh |
| 全部作者 | Y.-T Tang, C.-J. Su, Y.-S. Wang, K.-H. Kao, T.-L. Wu, P.-J. Sung, F.-J. Hou, C.-J. Wang, M.-S. Yeh, Y.-J. Lee, W.-F. Wu, G.- W. Huang, J.-M. Shieh, W.-K. Yeh, and Y.-H. Wang |
| 著作人數 | 15 |
| 作者型態 | Other |
| 會議地點 | USA |
