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研討會論文
年度2018
論文類型會議論文
論文等級SCI
論文名稱(篇名)A Comprehensive Study of Polymorphic Phase Distribution of Ferroelectric-Dielectrics and Interfacial Layer Effects on Negative Capacitance FETs for Sub-5 nm Node
會議名稱International Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Symposium)
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Y.-T Tang, C.-J. Su, Y.-S. Wang, K.-H. Kao, T.-L. Wu, P.-J. Sung, F.-J. Hou, C.-J. Wang, M.-S. Yeh, Y.-J. Lee, W.-F. Wu, G.- W. Huang, J.-M. Shieh, W.-K. Yeh, and Y.-H. Wang
著作人數15
作者型態Other
會議地點USA

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