:::

學術成果

:::
期刊論文
出版日期2016-09-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)The Observation of Width Quantization Impact on Device Performance and Reliability for High-k/Metal Tri-Gate FinFET
期刊名IEEE Transaction on Device and Materials Reliability
卷數16
期數4
起頁610
迄頁616
總頁數7
作者中文名葉文冠
作者英文名Wen-Kuan Yeh
全部作者Wen-Kuan Yeh, Wenqi Zhang, Yi-Lin Yang, An-Ni Dai(戴安妮), Kehuey Wu, Tung-Huan Chou, Cheng-Li Lin, Kwang-Jow Gan, Chia-Hung Shih and Po-Ying Chen
著作人數10
作者型態First Author

行事曆

« February 2019»
    010203
04050607080910
11121314151617
18192021222324
25262728
學術榮譽榜

ad01

GRB智慧搜尋系統

活動剪影

2009專題展2009電機專題展啦啦隊啦啦隊南茂科技參訪活動2014年電機系啦啦隊_亞軍2014年電機系啦啦隊_亞軍南茂實習2013年電機系啦啦隊榮獲冠軍2017年運動會電機系進場運動會進場運動會進場
閱讀更多
cron web_use_log